@fluketw
傳統式與新式ATEs
過去印刷電路板之設計是利用簡單的小規模集成電路（SSI）/中規模集成電路（MSI）/大規模集成電路（LSI），並且未與標準零件連接，利用通孔DIP封裝，如此可以方便利用傳統電路板測試ATE透過卡緣功能測試或者利用ICT針床式在線測試儀或者線夾測試來進行各項裝置的測試。
印刷電路板技術在這些年從封裝密度與功能複雜度的觀點來看，已有大幅變化。新技術印刷電路板採用了 可編程邏輯裝置（PLDs）、現場可程式化閘陣列（FPGAs）、數位信號處理器（DSPs）以及 單晶片微控制器（single chip micro controller）。許多裝置均有其專利，這些裝置功能性資訊則非常少。 球柵陣列封裝（BGA）方式讓測試時更難接觸到裝置的接點。
這些印刷電路板對利用傳統ATE系統來測試與診斷零件級瑕疵來說是項挑戰，原因很明顯，包括裝置封裝密度以及採用FPGA/CPLD/DSP裝置，取代了標準裝置。
製造測試時，針床式在線測試儀（因為測試點密度過高之故）與MDA（製造瑕疵分析儀）可以測試出瑕疵，包括開路/短路、錯誤值零件、零件遺漏、方向錯誤等，並且可以進行某種叢集功能測試。
但是在維修此類印刷電路板時，可能很少會找到這類製造瑕疵，因為印刷電路板在故障前仍具備其功能，最可能的瑕疵就是零件故障，如遇此種情況，MDA便無法測出瑕疵，測試者便需要ㄧ個功能測試儀。
測試此類新技術印刷電路板功能，並不容易，必須要有新ㄧ代的ATE系統，該系統應具備多元測試技術以及先進的測試軟體。
印刷電路板技術演進的同時，測試技術也一樣跟著演進。有個典型例子就是IEEE標準1149.1邊界掃描測試（BS TEST），該測試係利用簡單的連續介面（JTAG）將裝置接點栓住，如此可讓每個I/O接點變成實際的測試點，這是超級晶片高密度接點測試的解決方法。
光靠BS測試是不夠的，另外還需要同步進行卡緣測試（由ATE接點驅動器來驅動/感應），以便測試BS裝置與邊緣接頭之間補土性邏輯裝置上的瑕疵。
請注意所有裝置並非都是邊界掃描為主，某些DSP數位訊號處理器需要在線仿真器（In-circuit Emulator）來栓住裝置接點，以便進行RAM/ ROM、DSP裝置周邊邏輯之功能測試。
測試與偵查CPU或微控制器為主的電路板上之瑕疵，對根據傳統 ATE 來進ㄧ步開發測試程式組（TPS）的人員來說是一項挑戰，因為那需要昂貴的CPU模組與專業。
Qmax專利的匯流排週期辨識系統，容易學習，若與數位匯流排週期辨識系統比較，不需投資巨額金錢與時間來開發TPS測試向量。
ATE操作 人員經常碰到在ATE通過功能測試的電路板無法在現場可靠的運作，這樣會產生額外的工作負擔，且ATE的信賴度與可靠度便會讓人質疑。
大部分商業化ATEs僅進行功能性測試，並不會進行DC/AC測試，而此參數測試對於發現瑕疵是非常重要的一部分，且能達到近乎零退件標準。
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Qmax QT2256-320PXI ATE系統，ATE為修中心之最佳解決方案：
ATE QT2256-320PXI系統設計為組合式電路板測試器，能夠測試高複雜度與高密度的印刷電路板，在單一平台上即可進行各種測試方法。
該系統可以透過印刷電路板邊緣接頭來進行板級功能測試，以及導引探針診斷，以便有效修復傳統各類數位/類比式以及複合式印刷電路板。
若選用高電流接點驅動器，並且透過夾子或探針安裝入UUT在測單元時，這是一種在線裝置/叢集測試器，標準組態為64通道高電流接點驅動器。
附有內建20M Hz 12bit類比式驅動器/感應器，與類比/混合訊號裝置的數位驅動器同步運作。
邊緣掃描測試控制器（最多共有4組測鏈）以及套裝軟體可以運用在線接點高密度/高量接點印刷電路板裝置上。採用最新技術邊緣掃描RAM驅動器/感應器為主的硬體，能與ATE數位/類比接點驅動器同步運作。
為有效測試CPU電路板，且不讓CPU測試排除在外，本系統提供了Qmax專利匯流排週期辨識系統可供選擇。
在線仿真器可以測試DSP電路板功能。
完全整合之邊界掃描（選配）
此部分牽涉到使用測試接入端口（TAP）控制器（TDI、TDO、TMS、TCK與TRST均可選配）的邊界掃描裝置測試，Qmax ATE之邊界掃描與所有JTAG格式之IEEE標準1149.1相容。當進行邊界掃描測試時，所有320個數位通道也可以作為測電路板卡緣/測試接點的邏輯級數設定，如此可完成電路板整合測試，BS裝置與非BS裝置之功能測試（使用Qmax獨家波形編輯器，包含類比式目測模式之產生與比較）。本系統也支援ㄧ個以上的JTAG鏈，且BS鏈可適用於不同的電壓，例如：2.5V、3.3V或5V。
辨識分析（選配）
在Qmax ATE-QT2256-320PXI系統中，每個通道都可以在特定間隔時間取得每個數位接點的邏輯狀態。所產生的位元流會壓縮進入一個32bit的辨識字元，因此可以位每個測試通道建立一個特定的辨識符號。Qmax之匯流排週期辨識系統獲得美國與英國專利，可以測試CPU電路板，每種CPU都必須外接POD以便與測試系統相容。
